Oxford Instruments CMI900
 |
Oxford Instruments CMI900 on laadukas, kustannustehokas ja toimintavarma röntgenfluoresenssiin (engl. X-Ray Fluorescence, XRF) perustuva analysaattorilaite, joka mittaa pinnoitteen paksuuden ja materiaalin koostumuksen. Lue lisää... |
Oxford Instruments X-Strata980
 |
X-Strata980 pienhiukkas- ja raskasmetallipäästöjen analysointiin ja pinnoitteen paksuuden mittaukseen. Lue lisää... |
