CMI900 pinnoitteen paksuuden ja materiaalin koostumuksen mittaukseen
Oxford Instruments CMI900 on laadukas, kustannustehokas ja toimintavarma röntgenfluoresenssiin (engl. X-Ray Fluorescence, XRF) perustuva analysaattorilaite, joka mittaa pinnoitteen paksuuden ja materiaalin koostumuksen.
Ominaisuudet
- Pinnoitteen eri tasojen paksuuden mittaus
- Tunnistaa metalliseokset
- Analysoi pinnoitteen koostumuksesta jopa 15 eri elementtiä kerralla
- Nopea testi ei vahingoita pinnoitetta
- 3 eri asetusvaihtoehtoa erilaisia näytekokoja varten
-
Maailmanlaajuisesti todettu laatu
